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HORIBA XploRA PLUS 高性能全自动拉曼光谱
XploRA PLUS是最好的多样性、多用户拉曼光谱仪,它在一个可靠的、高性能的系统中融合了独特而强大的功能,是研究和分析实验室的理想选择。
它是完全共聚焦的,不影响图像质量、空间或深度分辨率。SWIFT快速拉曼图像是目前最快的全共焦拉曼图像,通常比传统拉曼成像快10倍。
XploRA PLUS的简单和强大是无可比拟的,它有更多的选择,如多种激光波长、EMCCD检测、拉曼偏振,甚至拉曼-AFM耦合。
通过简单的AFM 升级,从微米尺度转向纳米光学世界
HORIBA 紫外拉曼光谱仪
HORIBA 紫外拉曼(激发波长低于400nm)可以用来探测特定的样品特性,并受益于不同于可见光拉曼测量的实验特性,例如大大提高了拉曼散射效率,改变了激光在样品中的穿透力,以及对不同化学性质的谐振耦合。然而,紫外分析伴随着一些技术挑战,需要经过深思熟虑的仪器设计,使紫外拉曼成为对研究者真正有用的工具。
HORIBA TRIOS 多光路耦合纳米拉曼光谱仪
TRIOS是一种先进的研究平台,为材料科学、生物学、光谱学和光子学领域的研究人员提供了进入通道。TRIOS是最通用的光学耦合平台,提供三个端口用于光学光谱测量,可从顶部、侧向和顶部通达AFM针尖和样品。
TRIOS轻松耦合交钥匙拉曼/PL系统,实现同区域AFM-拉曼/PL测量、扫描近场光学显微镜(SNOM)和针尖增强光谱(TERS:针尖增强拉曼光谱和TEPL:针尖增强光致发光)。
HORIBA LabRAM Odyssey 高速高分辨显微共焦拉曼光谱仪
LabRAM Odyssey高速高分辨显微共焦拉曼光谱仪,快速获得详细的图像和分析,它非常适合于微观和宏观测量,提供先进的二维和三维共聚焦成像能力。LabRAM Odyssey™具有高性能和直观的简易性,广泛用于标准拉曼分析、光致发光(PL)、 针尖增强拉曼光谱 (TERS) 和其他联用分析方法。
通过简单的AFM 升级,从微米尺度转向纳米光学世界。
HORIBA 拉曼光纤探头
光纤耦合拉曼探头设计紧凑,坚固耐用,适用于多种应用,具有极高的灵活性。借助于可选配的集成摄像头,用户可以在拉曼分析之前精确定位感兴趣的区域。也可以采用浸入式探头和非接触式光学元件。
HORIBA GD-Profiler 2辉光放电光谱仪
HORIBA GD-Profiler 2™ 可以快速、同时分析所有感兴趣的元素,包括气体元素N、O、H和Cl,是薄膜和厚膜表征和工艺研究的理想工具。
GD-Profiler 2™ 配备的射频源可在脉冲模式下对易碎样品进行测试,广泛应用于高校以及工业研究实验室,其应用范围有腐蚀研究、PVD 涂层工艺控制、PV 薄膜开发以及LED 质量控制等。
HORIBA Partica LA-960V2 激光粒度分析仪
HORIBA LA-960V2 秉承 HORIBA 一贯的优异设计引领行业方向。其直观的软件、特有的附件和优异的性能将科学认知推向未知世界,是LA系列仪器的突破性演变。
HORIBA EMGA-Expert 氧/氮/氢分析仪
EMGA-Expert: 适合对检测精度和宽检测范围有苛刻要求的应用
大幅提高准确性和可用性,优化检测过程
金属和固体材料(包括钢铁、各种有色金属、陶瓷和电子材料)的特性和性能取决于氧、氮和氢的含量。在材料的研究和性能分析中,元素含量检测的高精度和分析用的样品量少的要求变得越来越重要。EMGA系列氧/氮/氢分析仪显著减少了分析时间和成本,同时提高了分析精度和设备关键性能。EMGA系列还追求可用性,强力支持提高材料研发和质量控制的效率。
HORIBA EMIA-Pro 碳硫分析仪
HORIBA EMIA Pro碳/硫分析仪基于HORIBA在非色散红外(NDIR)技术方面广受尊敬的专业技术。
它提供了改进的清洁效率、增强的用户友好软件、耐久性、可操作性和维护,以确保有效的测量,其缩短的周期时间加快了您的开发和制造速度。
HORIBA Auto SE - 自动化薄膜测量工具
HORIBA Auto SE是一种新型薄膜测量工具。仅需简单的几个按钮,几秒钟内即可自动完成样品测量和分析,并提供完整的薄膜特性分析报告,包括薄膜厚度、光学常数、表面粗糙度和薄膜的不均匀性、反射率或透过率。
Auto SE全自动化设计、一键式操作,功能齐全。配备自动XYZ样品台进行成像分析,自动切换微光斑,多种附件可选,以满足不同的应用需求。
Auto SE借助完整的操作向导,自动检测并诊断问题,对故障进行处理,仪器维护简单
Auto SE是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。
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