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Smart SE 是一款通用型薄膜测量工具。测试速度快，准确。它可以表征几埃到20µm薄膜厚度、光学常数（n, k）以及薄膜结构特性（如粗糙度、光学梯度及各向异性等）。

Smart SE利用 DeltaPsi2 软件平台在几分钟内对450-1000nm的光谱数据进行采集、建模分析。自动化双软件操作平台，从简化的工作流程到高端研发，满足不同层次和需求的客户。

HORIBA Auto SE - 自动化薄膜测量工具一键式全自动快速椭偏仪

Auto SE是一种新型薄膜测量工具。仅需简单的几个按钮，几秒钟内即可自动完成样品测量和分析，并提供完整的薄膜特性分析报告，包括薄膜厚度、光学常数、表面粗糙度和薄膜的不均匀性、反射率或透过率。

Auto SE全自动化设计、一键式操作，功能齐全。配备自动XYZ样品台进行成像分析，自动切换微光斑，多种附件可选，以满足不同的应用需求。

Auto SE借助完整的操作向导，自动检测并诊断问题，对故障进行处理，仪器维护简单

Auto SE是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。

HORIBA MESA-50K X射线荧光分析仪

为了满足 RoHS/ELV 测试和分析有害元素，HORIBA 提供了 X 射线荧光分析仪 XGT-1000WR 系列。自 2002 年以来，全球已有 1000 台仪器用于这些应用，以满足客户在不切割样品的情况下分析样品的关键需求。 2012 年，HORIBA发布了直观便捷的 MESA-50 X射线荧光分析仪，在很短的时间内变得非常流行，2013 年，MESA-50 系列增加了一种带有大样品室的新型 MESA-50K, 它配备了无需液氮的精密检测器，As/Sb 分析功能和多层膜FPM 可作为可选功能。

HORIBA XGT-9000 微区X射线荧光分析仪

速度和灵活性兼备是微区 X 射线荧光光谱的发展方向
　　　
<15µm 超高强度X射线头，兼具高灵敏度和高空间分辨率
高分辨相机和多种照明模式成像
双检测器！荧光X射线检测器和透射X射线检测器
轻元素检测器使元素检测范围下延到C元素

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